Entwicklung eines technologisch neuartigen Shearografie-Messverfahrens und -Messsystems zur präzisen und schnellen Detektion von Fehlstellen und Verformungen
Laufzeit: 01.10.2017 - 30.09.2020
Partner: MS_Electronics GmbH, Mesolt Engineering GmbH
Förderkennzeichen: ZF4478601SY7
Förderung durch: Bundesministerium für Wirtschaft und Energie im Programm „Zentrales Innovationsprogramm Mittelstand“ (ZIM)
Projektmittel (€): 187.775
Kurzfassung
Ziel des Projekts ist die Entwicklung eines technologisch neuartigen Shearografie-Messverfahrens und Messsystems zur präzisen und schnellen Detektion von Fehlstellen und Verformungen bei der Bauteilüberprüfung. Das neuartige Verfahren soll mit vier neuartigen Ansätzen eine bisher unerreichte Aussagequalität erreichen und dabei schnell und unempfindlich gegenüber Störeinflüssen sein. Bei den neuen technologischen Ansätzen handelt es sich um die Methode des räumlichen Phasenschiebens, die...Ziel des Projekts ist die Entwicklung eines technologisch neuartigen Shearografie-Messverfahrens und Messsystems zur präzisen und schnellen Detektion von Fehlstellen und Verformungen bei der Bauteilüberprüfung. Das neuartige Verfahren soll mit vier neuartigen Ansätzen eine bisher unerreichte Aussagequalität erreichen und dabei schnell und unempfindlich gegenüber Störeinflüssen sein. Bei den neuen technologischen Ansätzen handelt es sich um die Methode des räumlichen Phasenschiebens, die Kopplung der shearografischen mit einer aktiv-thermografischen Messung, die Verwendung und Aufnahme unterschiedlicher Lasermesslichtfrequenzen mit nur einer Kamera und die Kombination von Laserlicht und Lasermesslicht zu einer einzigen Einheit. Mit dem neu zu entwickelnden Messverfahren könnte ein Produkt auf dem Markt für Bauteilüberprüfung angeboten werden, das in Bezug auf Merssaussage und Messgeschwindigkeit den Stand der Technik bei Weitem übertreffen würde.» weiterlesen» einklappen