XRD and micro Raman characterization of epitaxial Bi-2201, Bi-2212 and Bi-2223 thin films
Physica C. Bd. 282/287. H. 2. 1997 S. 583 - 584
Erscheinungsjahr: 1997
ISBN/ISSN: 0921-4534
Publikationstyp: Zeitschriftenaufsatz
Sprache: Englisch
Doi/URN: 10.1016/S0921-4534(97)00386-9
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Inhaltszusammenfassung
Micro Raman characterization is performed on high quality thin films of Bi2Sr2CuO6 x (2201), Bi2Sr2CaCu2O8 x (2212), Bi2Sr2Ca2Cu3O10 x (2223) made by dc-sputtering. Single crystal x-ray measurements reveal the full epitaxy of the films, which allows for polarized Raman spectra to be obtained.
Autoren
Holiastou, M. (Autor)
Poulakis, N. (Autor)
Palles, D. (Autor)
Liarokapis, E. (Autor)
Niarchos, D. (Autor)
Frey, U. (Autor)
Klassifikation
DFG Fachgebiet:
Physik der kondensierten Materie
DDC Sachgruppe:
Physik
