High-pass energy-filtered photoemission electron microscopy imaging of dopants in silicon
Journal of microscopy. Bd. 230. H. 1. Oxford: Wiley-Blackwell 2008 S. 42 - 47
Erscheinungsjahr: 2008
ISBN/ISSN: 0022-2720
Publikationstyp: Zeitschriftenaufsatz
Sprache: Englisch
Doi/URN: 10.1111/j.1365-2818.2008.01953.x
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Klassifikation
DDC Sachgruppe:
Physik
