Anwendungspotentiale von scannenden Meßverfahren
Weferling, Ulrich (Hrsg). Von Handaufmaß bis High Tech, Teil: [1]., Messen, modellieren, darstellen : Aufnahmeverfahren in der historischen Bauforschung ; interdisziplinäres Kolloquium vom 23. - 26. Februar 2000. Darmstadt ; Mainz: von Zabern 2001 S. 134 - 140
Erscheinungsjahr: 2001
ISBN/ISSN: 978-3-8053-2818-0
Publikationstyp: Buchbeitrag
Sprache: Deutsch
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Klassifikation
DDC Sachgruppe:
Architektur
