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Surface morphology and grain analysis of successively industrially grown amorphous hydrogenated carbon films (a-C:H) on silicon

Applied Surface Science. Bd. 347. Amsterdam: Elsevier 2015 S. 657 - 667

Erscheinungsjahr: 2015

ISBN/ISSN: 0169-4332

Publikationstyp: Zeitschriftenaufsatz

Sprache: Englisch

Doi/URN: 10.1016/j.apsusc.2015.04.113

Volltext über DOI/URN

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GeprüftBibliothek

Inhaltszusammenfassung


  • AFM
  • Raman spectroscopy
  • Silicon (1 0 0)
  • Thickness dependency
  • a-C:H films
  • diamond-like carbon (DLC)

Autoren


Catena, Alberto (Autor)
McJunkin, Thomas (Autor)
Agnello, Simonpietro (Autor)
Gelardi, Franco M. (Autor)

Verbundene Forschungsprojekte



Verknüpfte Personen