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Specifying the interlayer turning point and dehydrogenation in a-C:H layers plasma deposited on high-density polyethylene with X-ray synchrotron techniques

Thin Solid Films. Bd. 691. Amsterdam: Elsevier 2019

Erscheinungsjahr: 2019

ISBN/ISSN: 1879-2731

Publikationstyp: Zeitschriftenaufsatz

Sprache: Englisch

Doi/URN: 10.1016/j.tsf.2019.137617

Volltext über DOI/URN

GeprüftBibliothek

Inhaltszusammenfassung


  • Diffuse reflectance infrared Fourier transform spectroscopy
  • Industrial plasma coating
  • Near-edge X-ray absorption fine structure
  • Thin films
  • X-ray photoelectron spectroscopy
  • sp2/sp3 ratio

Autoren


Schlebrowski, Torben (Autor)
Rouabeh, W. (Autor)
Wehner, Stefan (Autor)
Fischer, Christian B. (Autor)