On optimizing BIST-architecture by using OBDD-based approaches and genetic algorithms
Proceedings: 15th IEEE VLSI Test Symposium. Monterey: IEEE 1997 S. 426 - 431
Erscheinungsjahr: 1997
ISBN/ISSN: 0818678100
Publikationstyp: Diverses
Sprache: Englisch
Doi/URN: 10.1109/vtest.1997.600327
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Klassifikation
DDC Sachgruppe:
Informatik
