On optimizing BIST-architecture by using OBDD-based approaches and genetic algorithms
Proceedings. 15th IEEE VLSI Test Symposium (Cat. No.97TB100125). USA: IEEE Comput. Soc. Press 2002
Erscheinungsjahr: 2002
ISBN/ISSN: 0818678100
Publikationstyp: Diverses
Sprache: Englisch
Doi/URN: 10.1109/vtest.1997.600327
Klassifikation
DDC Sachgruppe:
Informatik
