A fast optimal robust path delay fault testable adder
Proceedings ED&TC: European Design and Test Conference. Paris: IEEE 1996 S. 491 - 498
Erscheinungsjahr: 1996
ISBN/ISSN: 0818674237
Publikationstyp: Diverses
Sprache: Englisch
Doi/URN: 10.1109/edtc.1996.494346
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Klassifikation
DDC Sachgruppe:
Informatik
