A fast optimal robust path delay fault testable adder
Proceedings ED&TC European Design and Test Conference. USA: IEEE Comput. Soc. Press 2002
Erscheinungsjahr: 2002
ISBN/ISSN: 0818674237
Publikationstyp: Diverses
Sprache: Englisch
Doi/URN: 10.1109/edtc.1996.494346
Klassifikation
DDC Sachgruppe:
Informatik
