OBDD-based optimization of input probabilities for weighted random pattern generation
Twenty-Fifth International Symposium on Fault-Tolerant Computing: Digest of Papers. Pasadena: IEEE 1995 S. 120 - 129
Erscheinungsjahr: 1995
ISBN/ISSN: 0818670797
Publikationstyp: Diverses
Sprache: Englisch
Doi/URN: 10.1109/ftcs.1995.466991
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Klassifikation
DDC Sachgruppe:
Informatik
