Random pattern fault simulation in multi-valued circuits
Proceedings 25th International Symposium on Multiple-Valued Logic. Bloomington: IEEE 1995 S. 98 - 103
Erscheinungsjahr: 1995
ISBN/ISSN: 0818671181
Publikationstyp: Diverses
Sprache: Englisch
Doi/URN: 10.1109/ismvl.1995.513516
| Geprüft | Bibliothek |
Klassifikation
DDC Sachgruppe:
Informatik
