A Model-Based Soft Errors Risks Minimization Approach
Yu Hen Hu;Chun Jason Xue;Sang-Soo Yeo (Hrsg). Proceedings of the Fourth International Conference on Embedded and Multimedia Computing EM‐Com 2009: 10-12 December 2009; Jeju, Korea (South). Piscataway, NJ: IEEE Institute of Electrical and Electronics Engineers 2009 S. 1 - 6
Erscheinungsjahr: 2009
ISBN/ISSN: 978-1-4244-4995-8
Publikationstyp: Diverses (Konferenzbeitrag)
Sprache: Englisch
Doi/URN: 10.1109/EM-COM.2009.5402994
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Autoren
Sadi, Muhammad Sheikh (Autor)
Myers, D.G. (Autor)
Ortega, Cesar (Autor)
Jürjens, Jan (Autor)
