Compact x-ray microscopes for EUV- and soft x-radiation with spectral imaging capabilities
Advances in X-Ray/EUV Optics, Components and Applications. Bd. 6317. Bellingham, Wash.: SPIE 2007 631704
Erscheinungsjahr: 2007
ISBN/ISSN: 0277-786X
Publikationstyp: Zeitschriftenaufsatz
Sprache: Englisch
Doi/URN: 10.1117/12.679819
| Geprüft | Bibliothek |
Autoren
Schäfer, David (Autor)
Nisius, Thomas (Autor)
Früke, Rolf (Autor)
Rausch, Stefan (Autor)
Wieland, Marek (Autor)
Vogt, Uli (Autor)
Klassifikation
DDC Sachgruppe:
Physik
