Transistor test bench for Gummel-Poon modeling in circuit technology courses
2017 IEEE Global Engineering Education Conference (EDUCON) : 25-28 April, 2017, Athens, Greece. NN: IEEE 2017 S. 1304 - 1308
Erscheinungsjahr: 2017
Publikationstyp: Buchbeitrag (Konferenzbeitrag)
Sprache: Englisch
Doi/URN: 10.1109/educon.2017.7943016
| Geprüft | Bibliothek |
Autoren
Stoß, Klaus (Autor)
Berres, Ralph (Autor)
Dirksmeyer, Lorenz (Autor)
Klassifikation
DDC Sachgruppe:
Technik
